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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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2008 | Reliability characteristics of W-La2O3 structures compared with those of HfO2-based gate oxides | Artículo | JOEL MOLINA REYES; FRANCISCO JAVIER DE LA HIDALGA WADE; PEDRO ROSALES QUINTERO | 17-ago-2018 |
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