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http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/1394| Análisis de cambio de fase local por polarización implementando un SLM | |
| Guadalupe Nayeli Perez Esquivel | |
| FERMIN SALOMON GRANADOS AGUSTIN BRENDA VILLALOBOS MENDOZA | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial-SinDerivadas | |
| SLM Polarization Phase change | |
| En este trabajo se muestra la implementación de una pantalla de cristal líquido (LCD por sus siglas en inglés) utilizada como elemento para medir de forma indirecta los defectos locales y globales en espejos montados en un brazo de un interferómetro tipo Twyman Green. Se muestra los pasos realizados para la caracterización de una LCD modelo XGA2P01 marca CRL-Opto, así como los diferentes estados de polarización obtenidos. El procedimiento realizado fue seleccionar la longitud de onda a la cual la LCD tuviera un mayor comportamiento lineal, esto se realizó de forma experimental haciendo incidir cuatro diferentes longitudes de onda: rojo (633 nm), naranja (612 nm), violeta (405 nm) y verde (550 nm) y midiendo con un detector de la marca Thorlabs las diferentes intensidades producidas por cada laser al desplegar diferentes niveles de gris en el LCD. Después se determinó de forma experimental la relación entre los niveles de gris y el cambio de fase del LCD al hacer incidir luz linealmente polarizada. El método empleado fue interferómetria de desplazamiento de fase. En la LCD se desplegaron imágenes manteniendo un nivel de gris fijo en la mitad superior y en la mitad inferior el nivel de gris fue variando, posteriormente se realizó un procesado de la imagen e implementando un algoritmo se obtuvo la curva “Desplazamiento de fase vs nivel de gris”. Para ello la LCD se montó en uno de los brazos de un interferómetro Twyman Green y antes de obtener la curva característica de la LCD fue necesario la calibración del interferómetro eliminado la lente colimadora e iluminándolo con luz blanca convirtiéndolo en un interferómetro de Michelson con el objetivo de comprobar que los cambios de fase observados en los patrones de interferencia fueran producidos únicamente por el despliegue de los diferentes niveles de gris y no debido al espesor de la LCD. De los resultados obtenidos, se observa que la técnica propuesta funciona correctamente para corregir defectos locales en la superficie bajo prueba, que produzcan desplazamientos de fase de hasta 1.5π. | |
| Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica | |
| 2018-08 | |
| Tesis de maestría | |
| Español | |
| Estudiantes Investigadores Público en general | |
| Pérez Esquivel, G. N., (2018). Análisis de cambio de fase local por polarización implementando un SLM, Tesis de Maestría, Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica | |
| ÓPTICA | |
| Versión aceptada | |
| acceptedVersion - Versión aceptada | |
| Aparece en las colecciones: | Maestría en Óptica |
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