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Fecha de publicación	Título	Tipo de publicación/ Tipo de recurso	Autor(es)	Fecha de depósito
2008	Analysis of surface roughness and its relationship with photoluminescence properties of silicon-rich oxide films	Artículo	JOSE ALBERTO LUNA LOPEZ; ALFREDO MORALES SANCHEZ; MARIANO ACEVES MIJARES	9-abr-2018