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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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2008 | Analytical characterization and modeling of shielded test structures for RF-CMOS | Artículo | EMMANUEL TORRES RIOS; REYDEZEL TORRES TORRES; ROBERTO STACK MURPHY ARTEAGA; EDMUNDO ANTONIO GUTIERREZ DOMINGUEZ | 24-ago-2018 |
2010 | Transmission line characterization on silicon considering arbitrary distribution of the series and shunt pad parasitics | Artículo | REYDEZEL TORRES TORRES; RAFAEL VENEGAS FERRER | 31-oct-2018 |
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