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Buscar por Autor JOSE LUIS GARCIA GERVACIO
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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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oct-2009 | An aware methodology to evaluate circuit testability for small delay defects | Tesis de doctorado | JOSE LUIS GARCIA GERVACIO | 13-sep-2017 |
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