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Fecha de publicaciónTítuloTipo de publicación/ Tipo de recursoAutor(es)Fecha de depósito
2008Analytical characterization and modeling of shielded test structures for RF-CMOSArtículoEMMANUEL TORRES RIOS; REYDEZEL TORRES TORRES; ROBERTO STACK MURPHY ARTEAGA; EDMUNDO ANTONIO GUTIERREZ DOMINGUEZ24-ago-2018