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http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/297| Desarrollo de un refractómetro interferométrico para medir flujos laminares | |
| ESTEBAN RUEDA SORIANO | |
| FERMIN SALOMON GRANADOS AGUSTIN | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial-SinDerivadas | |
| Interferometry Refractive index measurement Refractometers | |
| La necesidad de medir el índice de refracción en materiales transparentes ya sean sólidos o líquidos, siempre ha sido un tópico de investigación, especialmente para el diseño e instrumentación óptica, pues el índice de refracción es la base de la Óptica, empezando por la definición del camino óptico de un rayo que viaja del punto A al punto B multiplicado por el índice de refracción que pasa a través de uno o varios medios, donde el índice de refracción viene denotado por la letra n y es la razón de la velocidad de la luz en el vacío, v entre la velocidad de la luz en el medio de propagación. Y es utilizada tanto en la Óptica Física como Geométrica. Para cumplir este objetivo se han utilizado diferentes métodos, los cuales han dado lugar a diferentes instrumentos. Uno de ellos es el refractómetro de Abbe, el cual se basa en la geométrica con la técnica del ángulo límite. Otro método de medición es de naturaleza interferométrica, donde el interferómetro de Michelson suele ser el más utilizado en este campo, y los elipsómetros, que trabajan por medio de los cambios de estados de polarización que sufre la luz al pasar por un material. En este trabajo de tesis se propone una nueva metodología para medir el índice de refracción, utilizando interferometría como base de trabajo, debido a la versátilidad que en algunos ambientes de trabajo de campo se requiere. En específico, se recurre al Interferómetro de Difracción por Punto (IDP). Este IDP utiliza un mínimo de elementos ópticos, no requiere de una óptica auxiliar para generar el frente de onda de referencia, pues el IDP genera su propio frente de onda de referencia, y por ser un interferómetro de camino común es insensible a vibraciones, haciendolo estable en la lectura de sus patrones de interferencia, como desventaja se puede mencionar la dificultad para alinear el sistema, en especial la placa del IDP que genera la interferencia. Para lograr el objetivo, se utilizan los cambios comparativos que se tienen de dos patrones de interferencia generados por el IDP, el primer patrón de interferencia es de referencia, ya que se genera sin la placa de vidrio a medir, el segundo patrón de interferencia es generado con la placa de vidrio. | |
| Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica | |
| 2012-11 | |
| Tesis de doctorado | |
| Español | |
| Estudiantes Investigadores Público en general | |
| Rueda-Soriano E. | |
| ÓPTICA | |
| Versión aceptada | |
| acceptedVersion - Versión aceptada | |
| Aparece en las colecciones: | Doctorado en Óptica |
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