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http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/340| Reconocimiento de firmas manuscritas en línea usando alineamiento dinámico en tiempo y descomposición por ondoletas | |
| JUAN CARLOS SANCHEZ DIAZ | |
| ROGERIO ADRIAN ENRIQUEZ CALDERA JUAN MANUEL RAMIREZ CORTES | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial-SinDerivadas | |
| Pattern recognition equipment Computer peripheral equipment Computerised pattern recognition Pattern recognition Wavelet transforms | |
| El crecimiento del comercio electrónico y de las transacciones bancarias personales o no personales requiere de un incremento en la seguridad de dichas operaciones. La clonación y robo de tarjetas de crédito es una práctica frecuente entre los defraudadores, que emplean la información presente en estos documentos para acceder a las cuentas bancarias de los afectados y cometer fraudes. Anualmente, este tipo de delitos representan pérdidas millonarias en todo el mundo. El uso de parámetros biométricos, tales como información de la firma del usuario en este tipo de transacciones incrementa la seguridad de los procesos. En el desarrollo del presente proyecto de tesis, se presenta un método de reconocimiento de firmas haciendo uso de la técnica de Alineamiento Dinámico en tiempo modificado (DTW por sus siglas en inglés) y de los coeficientes de la Transformada “Wavelet” a un cierto nivel de aproximación. La técnica original DTW fue modificada por medio de la incorporación de información basada en puntos de apareamiento directo (“Direct Matching Points”, DMP), con lo cual se obtuvo una mejora en la medida de similitud utilizada en el sistema. Las pruebas se realizaron a nivel de la firma completa (global) y a nivel de los trazos que la componen (“strokes”). Para tal motivo se diseñó e implementó un sistema de evaluación en la plataforma de MATLAB. A su vez es evaluado el desempeño del sistema haciendo uso de distintas funciones Wavelet, para determinar con cuál de ellas se presenta un mejor resultado, en función de las siguientes figuras de mérito: Razón de Falsos Rechazos (FRR por sus siglas en inglés), Razón de Falsas Aceptaciones (FAR por sus siglas en inglés) y Razón de Error Igual (ERR por sus siglas en inglés). | |
| Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica | |
| 2010-05 | |
| Tesis de maestría | |
| Español | |
| Estudiantes Investigadores Público en general | |
| Sanchez-Diaz J.C. | |
| ELECTRÓNICA | |
| Versión aceptada | |
| acceptedVersion - Versión aceptada | |
| Aparece en las colecciones: | Maestría en Electrónica |
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