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Resultados por ítem:
Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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2008 | Very shallow boron junctions in Si by implantation and SOD diffusion obtained by RTP | Artículo | Jairo Plaza Castillo; ALFONSO TORRES JACOME; OLEKSANDR MALIK | 2-may-2018 |
2010 | Electrical characterization of a-C:H as a dielectric material in metal/insulator/metal structures | Artículo | CARLOS ZUÑIGA ISLAS; ANDREY KOSAREV; ALFONSO TORRES JACOME; PEDRO ROSALES QUINTERO; WILFRIDO CALLEJA ARRIAGA; FRANCISCO JAVIER DE LA HIDALGA WADE; OLEKSANDR MALIK | 29-oct-2018 |