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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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ago-2020 | BTI phenomenon analysis through gate oxide characterization | Tesis de doctorado | ALEJANDRO CAMPOS CRUZ | 1-mar-2021 |
feb-2019 | Charge trapping dynamics associated to MOSFET degradation: an experimetal approach with magnetic fields | Tesis de doctorado | Oscar Vicente Huerta González | 1-oct-2019 |
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