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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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feb-2019 | Charge trapping dynamics associated to MOSFET degradation: an experimetal approach with magnetic fields | Tesis de doctorado | Oscar Vicente Huerta González | 1-oct-2019 |
2010 | Magneto-modulation of gate leakage current in 65 nm nMOS transistors: Experimental, modeling, and simulation results | Artículo | EDMUNDO ANTONIO GUTIERREZ DOMINGUEZ; JOEL MOLINA REYES; PEDRO JAVIER GARCIA RAMIREZ | 11-oct-2018 |
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