Bienvenidos al Repositorio Institucional de INAOE
¡Bienvenido a nuestro Repositorio Institucional de INAOE!
Nuestro repositorio es una Plataforma digital que contiene toda nuestra información académica, científica, tecnológica y de innovación, la cual se encuentra vinculada al Repositorio Nacional del CONACYT siguiendo estándares internacionales contemplados en los Lineamientos Técnicos para la construcción de repositorios institucionales publicados por el CONACYT.
Buscar por Materia Scattering parameters measurement
Mostrando resultados 1 a 2 de 2
Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
---|---|---|---|---|
2009 | Analysis of the impact of the drain-junction tunneling effect on a microwave MOSFET from S-parameter measurements | Artículo | EMMANUEL TORRES RIOS; REYDEZEL TORRES TORRES; EDMUNDO ANTONIO GUTIERREZ DOMINGUEZ | 17-jul-2018 |
2009 | Analysis of the impact of the drain-junction tunneling effect on a microwave MOSFET from S-parameter measurements | Artículo | EMMANUEL TORRES RIOS; REYDEZEL TORRES TORRES; EDMUNDO ANTONIO GUTIERREZ DOMINGUEZ | 24-ago-2018 |
Mostrando resultados 1 a 2 de 2