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Fecha de publicaciónTítuloTipo de publicación/ Tipo de recursoAutor(es)Fecha de depósito
1-oct-2013Modeling and Parameter Extraction of Test Fixtures for MOSFET On-Wafer Measurements up to 60 GHzArtículoGERMAN ANDRES ALVAREZ BOTERO; Reydezel Torres Torres; Roberto Stack Murphy Arteaga2-may-2022