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Fecha de publicaciónTítuloTipo de publicación/ Tipo de recursoAutor(es)Fecha de depósito
ago-2020BTI phenomenon analysis through gate oxide characterizationTesis de doctoradoALEJANDRO CAMPOS CRUZ1-mar-2021
feb-2019Charge trapping dynamics associated to MOSFET degradation: an experimetal approach with magnetic fieldsTesis de doctoradoOscar Vicente Huerta González1-oct-2019