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Characterization of silicon rich oxides with tunable optical band gap on sapphire substrates by photoluminescence, UV/Vis and raman spectroscopy
JOSE ALBERTO LUNA LOPEZ
MARIANO ACEVES MIJARES
Acceso Abierto
Atribución-NoComercial-SinDerivadas
Silicon rich oxides
Optical properties
Photoluminiscence
Silicon nano crystals
Nanostructured materials
Luminescence
Raman spectroscopy
Silicon rich oxides
Óxidos de silicio
Propiedades ópticas
Fotoluminiscencia
A detailed analysis of the optical properties of silicon rich oxides (SRO) thin films and the factors that influence them is presented. SRO films with different Si content were synthesized via LPCVD (low pressure chemical vapor deposition) on sapphire substrates. Photoluminescence (PL), UV/Vis and Raman spectroscopy were used to characterize the samples. An intense emission in blue region was found. An interesting fact is that the optical band gap correlates linearly with the reactants ratio, which allows the tuning of the band gap. The influence of parameters such as substrate, Si content, annealing temperature and annealing time on the optical properties are discussed and the possible mechanisms of the photoluminescence are compared with our experimental data.
Se presenta un análisis detallado de las propiedades ópticas de películas delgadas de oxido de silicio rico en silicio (SRO) y los factores que tienen influencia en las propiedades físicas. Películas de SRO con diferente contenido de silicio fueron depositadas por LPCVD (Deposito químico en fase vapor a baja presiónlow pressure chemical vapor deposition) sobre substratos de zafiro. Fotoluminiscencia (FL) espectroscopia UV/Vis y Raman se usaron para caracterizar las muestras. Se encontró una intensa emisión en la región azul. La característica más interesante es la banda prohibida óptica, que se correlaciona linealmente con la razón de los reactivos, lo cual permite el ajuste de la banda prohibida. Las influencias de los parámetros como el substrato, contenido de silicio, temperatura y tiempo de recocido en las propiedades ópticas se discuten y los posibles mecanismos de fotoluminiscencia son comparados con los datos experimentales.
Sociedad Química de México
2008
Artículo
Inglés
Estudiantes
Investigadores
Público en general
Ragnar K., et al., (2008). Characterization of silicon rich oxides with tunable optical band gap on sapphire substrates by photoluminescence, UV/Vis and raman spectroscopy, J. Mex. Chem. Soc., 52 (3): 212-218
ELECTRÓNICA
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