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http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/303| Medición de perfiles utilizando técnicas de proyección de franjas | |
| MARCO ANTONIO CANCHOLA CHAVEZ | |
| EDUARDO TEPICHIN RODRIGUEZ ESTELA LÓPEZ OLAZAGASTI | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial-SinDerivadas | |
| Desplazamiento de fase Metrology GUI | |
| En este trabajo estamos interesados en las técnicas de luz estructurada. En particular nos enfocaremos en el desarrollo de dos técnicas, las cuales serán mostradas en este documento: el método de perfilometría por transformada de Fourier o Método de Takeda [16], y el método de desplazamiento de fase llamado Phase-Shifting [17], para el análisis de una superficie de referencia Se describe el montaje experimental realizado en laboratorio, se lleva acabo el desarrollo de un algoritmo para el desenvolvimiento de fase aplicado a ambos métodos y se propone un algoritmo para la implementación de un sistema semiautomático de generación, proyección de rejillas de Ronchi y adquisición de imágenes para llevar acabo los métodos anteriormente mencionados. Se presentan también los resultados preliminares obtenidos para la recuperación del perfil de un objeto de amplitud. | |
| Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica | |
| 2012-04 | |
| Tesis de maestría | |
| Español | |
| Estudiantes Investigadores Público en general | |
| Canchola-Chávez M.A. | |
| ÓPTICA | |
| Versión aceptada | |
| acceptedVersion - Versión aceptada | |
| Aparece en las colecciones: | Maestría en Óptica |
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