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http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/370| Desarrollo de un arreglo compacto para pruebas de superficies ópticas usando un interferómetro de difracción por punto | |
| PEDRO CEBRIAN XOCHIHUILA | |
| ANSELMO ALEJANDRO CORNEJO RODRIGUEZ FERMIN SALOMON GRANADOS AGUSTIN | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial-SinDerivadas | |
| Diffraction Interferometer Point | |
| La principal ventaja que presenta un interferómetro de trayectoria común es poder medir las diferencias de camino óptico directamente sin óptica auxiliar. Un interferómetro de este tipo es el interferómetro de difracción por punto (IDP), el cual es un simple instrumento en donde después de pasar por una placa semitransparente el frente de onda de referencia y el frente de onda bajo prueba recorren caminos iguales, es por esto que es insensible a vibraciones mecánicas o variaciones de temperatura, siendo esta una gran ventaja respecto a los interferómetros de trayectorias separadas. La principal componente del IDP, es una placa de vidrio semitransparente fabricada con el depósito de una película delgada de Aluminio (o cualquier otro material metálico), dejando una discontinuidad en forma de micro-orificio circular. Una vez obtenida esta placa semitransparente, la colocamos en el plano imagen del sistema bajo prueba, entonces pasa el frente onda bajo prueba de forma atenuada y al mismo tiempo el micro-orificio difracta creando el frente de onda de referencia que es esférico y la superposición de estos dos frentes de onda nos da lo que bien conocemos como el patrón de interferencia. En este trabajo de tesis hacemos la construcción de un IDP compacto, con el fin de que tengamos un instrumento portátil para evaluar la calidad óptica de componentes o sistemas ópticos completos. | |
| Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica | |
| 2009-03 | |
| Tesis de maestría | |
| Español | |
| Estudiantes Investigadores Público en general | |
| Cebrian-Xochihuila P. | |
| ÓPTICA | |
| Versión aceptada | |
| acceptedVersion - Versión aceptada | |
| Aparece en las colecciones: | Maestría en Óptica |
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