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http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/397| Sistemas de detección de valor RMS para señales en sistemas inalámbricos | |
| FERNANDO ENRIQUE LARA VILA | |
| ALEJANDRO DIAZ SANCHEZ JOSE MIGUEL ROCHA PEREZ | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial-SinDerivadas | |
| Analogue integrated circuits Analogue processing circuits Analogue multipliers | |
| Today, on-chip testing of circuits and systems has begun to be very important for engineers. Testing Systems On Chip (SoCs) is currently in research, development and innovation. In contrast with digital systems, in analogue systems (particularly wireless communication systems such as microwave, RF, etc.) the test is more complex due to the low voltage range and density of thermal noise at the frequencies to which are used. Currently, several techniques have been proposed to test systems for RF wireless communications, where Built-In Testing (BIT) techniques have proved to be the most useful. In works reported recently, the use of the RMS value of signals in communication systems has been used in test systems, performance optimization and bug fixes. Since a RMS detector generates a DC value proportional to the amplitude or power of an input signal, its use in environments with high contamination of thermal noise allows to discriminate between the power that such noise brings and that comes from the signal of interest.
Following this trend, this thesis develops a prototype detector circuit RF-RMS, a proposal to level system of RMS estimator from homogeneous delays which also describes the delay circuit, driver circuit and also are generated four new circuit topologies of analog dividers, based in a standard 0.35μm CMOS technology. Hoy en día, el testing on-chip de circuitos y sistemas ha comenzado a manifestarse como un requrimiento importante para los ingenieros. El testing en Systems On Chip (SoCs) se encuentra actualmente en investigación, desarrollo y en constante innovación. En contraste con los sistemas digitales, en los sistemas analógicos (en particular los sistemas de comunicaciones inalámbricos como: microondas, RF, etc.) el test resulta más complejo debido a la presencia de voltajes reducidos y la alta densidad de ruido térmico a las frecuencias de interés. Actualmente, varias técnicas han sido propuestas para realizar test a sistemas de comunicaciones inalámbricos de RF, donde las técnicas Built-In-Testing (BIT) han resultado ser de las más útiles. En trabajos reportados recientemente, el valor RMS de señales en sistemas de comunicación ha sido utilizado en sistemas de pruebas, optimización de desempeño y corrección de errores. Debido a que un detector de valor RMS genera un valor de DC proporcional a la amplitud o potencia de una señal de entrada determinada, su utilización en ambientes con gran contaminación de ruido térmico permite discriminar entre la potencia que dicho ruido aporta y la que proviene de la señal de interés. Siguiendo esta tendencia, en esta tesis se desarrolla un prototipo de circuito detector de RF-RMS. Se presenta una propuesta a nivel sistema de estimador de RMS a partir de retardos homogéneos donde se describen también los circuitos de retardo, circuito driver y además son generadas cuatro nuevas topologías de circuitos divisores analógicos, todos ellos desarrollados en una tecnología CMOS estándar de 0.35μm. | |
| Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica | |
| 2009-05 | |
| Tesis de maestría | |
| Español | |
| Estudiantes Investigadores Público en general | |
| Lara-Vila F.E. | |
| ELECTRÓNICA | |
| Versión aceptada | |
| acceptedVersion - Versión aceptada | |
| Aparece en las colecciones: | Maestría en Electrónica |
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