Buscar
Resultados 1-2 de 2.
- Anterior
- 1
- Siguiente
Resultados por ítem:
| Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
|---|---|---|---|---|
| feb-2019 | Charge trapping dynamics associated to MOSFET degradation: an experimetal approach with magnetic fields | Tesis de doctorado | Oscar Vicente Huerta González | 1-oct-2019 |
| ago-2020 | BTI phenomenon analysis through gate oxide characterization | Tesis de doctorado | ALEJANDRO CAMPOS CRUZ | 1-mar-2021 |
Otras opciones relacionadas
Materia
- 1 Aging
- 1 BTI
- 1 Characterization
- 1 Gate oxide
- 1 Gate rust
- 1 Gate stack
- 1 Magnetic field
- 1 MOSFET
- 1 RTN
- 1 SiON