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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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1-oct-2013 | Modeling and Parameter Extraction of Test Fixtures for MOSFET On-Wafer Measurements up to 60 GHz | Artículo | GERMAN ANDRES ALVAREZ BOTERO; Reydezel Torres Torres; Roberto Stack Murphy Arteaga | 2-may-2022 |