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| Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
|---|---|---|---|---|
| 2008 | Reliability characteristics of W-La2O3 structures compared with those of HfO2-based gate oxides | Artículo | JOEL MOLINA REYES; FRANCISCO JAVIER DE LA HIDALGA WADE; PEDRO ROSALES QUINTERO | 17-ago-2018 |