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Fecha de publicación	Título	Tipo de publicación/ Tipo de recurso	Autor(es)	Fecha de depósito
1-oct-2013	Modeling and Parameter Extraction of Test Fixtures for MOSFET On-Wafer Measurements up to 60 GHz	Artículo	GERMAN ANDRES ALVAREZ BOTERO; Reydezel Torres Torres; Roberto Stack Murphy Arteaga	2-may-2022