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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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ago-2020 | BTI phenomenon analysis through gate oxide characterization | Tesis de doctorado | ALEJANDRO CAMPOS CRUZ | 1-mar-2021 |
jul-2016 | Inestabilidad debido a polarización y temperatura en circuitos integrados nanométricos | Tesis de maestría | ALEJANDRO CAMPOS CRUZ | 13-nov-2017 |
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