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Fecha de publicaciónTítuloTipo de publicación/ Tipo de recursoAutor(es)Fecha de depósito
ago-2020BTI phenomenon analysis through gate oxide characterizationTesis de doctoradoALEJANDRO CAMPOS CRUZ1-mar-2021
jul-2016Inestabilidad debido a polarización y temperatura en circuitos integrados nanométricosTesis de maestríaALEJANDRO CAMPOS CRUZ13-nov-2017