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Buscar por Autor GERMAN ANDRES ALVAREZ BOTERO
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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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jul-2009 | Modelado y caracterización de MOSFETs nanométricos utilizando técnicas de circuito equivalente | Tesis de maestría | GERMAN ANDRES ALVAREZ BOTERO | 13-sep-2017 |
1-oct-2013 | Modeling and Parameter Extraction of Test Fixtures for MOSFET On-Wafer Measurements up to 60 GHz | Artículo | GERMAN ANDRES ALVAREZ BOTERO; Reydezel Torres Torres; Roberto Stack Murphy Arteaga | 2-may-2022 |
2010 | Using S-parameter measurements to determine the threshold voltage, gain factor, and mobility degradation factor for microwave bulk-MOSFETs | Artículo | GERMAN ANDRES ALVAREZ BOTERO; REYDEZEL TORRES TORRES; ROBERTO STACK MURPHY ARTEAGA | 17-oct-2018 |
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