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Resultados por ítem:
| Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
|---|---|---|---|---|
| may-2014 | Reliability enhancement of nanometer-scale digital circuits | Tesis de doctorado | HECTOR LUIS VILLACORTA MINAYA | - |
| jun-2012 | Realistic detection of interconnect opens under process variations | Tesis de doctorado | JESUS MORENO MORENO | - |
| 6-dic-2017 | Reliability analysis and improvement of nanoscale CMOS digital circuits | Tesis de doctorado | ANDRES FELIPE GOMEZ CHACON | 25-ene-2018 |