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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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ago-2016 | A method to estimate the reliability of FPGA-based architectures for space systems | Tesis de maestría | JUAN ANDRES PEREZ CELIS | 24-nov-2017 |
2008 | Degradation and Breakdown of W–La2O3 Stack after Annealing in N2 | Artículo | JOEL MOLINA REYES; ALFONSO TORRES JACOME; WILFRIDO CALLEJA ARRIAGA | 26-abr-2018 |
3-mar-2013 | Process Variations-Aware Statistical Analysis Framework for Aging Sensors Insertion | Artículo | JULIO CESAR VAZQUEZ HERNANDEZ; Víctor Hugo Champac Vilela | 29-nov-2021 |
jun-2012 | Realistic detection of interconnect opens under process variations | Tesis de doctorado | JESUS MORENO MORENO | - |
6-dic-2017 | Reliability analysis and improvement of nanoscale CMOS digital circuits | Tesis de doctorado | ANDRES FELIPE GOMEZ CHACON | 25-ene-2018 |
may-2014 | Reliability enhancement of nanometer-scale digital circuits | Tesis de doctorado | HECTOR LUIS VILLACORTA MINAYA | - |
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