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Fecha de publicaciónTítuloTipo de publicación/ Tipo de recursoAutor(es)Fecha de depósito
ene-2015Analysis of hot carrier degradation impact on small signal model parameters in nanometric n-MOSFETTesis de maestríaDANIEL GARCIA GARCIA-
feb-2014Effect of drift and diffusion processes in the change of the current direction in a fet transistorTesis de maestríaOSCAR VICENTE HUERTA GONZALEZ-
ago-2016Study of the MOS transistor for applications in RF circuitsTesis de doctoradoFABIÁN ZÁRATE RINCÓN-
jul-2009Modelado y caracterización de MOSFETs nanométricos utilizando técnicas de circuito equivalenteTesis de maestríaGERMAN ANDRES ALVAREZ BOTERO13-sep-2017
nov-2008Substrate loss characterization and modeling for high frequency CMOS applications Tesis de doctoradoEMMANUEL TORRES RIOS4-oct-2017
feb-2008Modelado y simulación del MOSFET de umbral dinámico (DTMOS)Tesis de doctoradoABIMAEL JIMENEZ PEREZ27-sep-2017
feb-2019Charge trapping dynamics associated to MOSFET degradation: an experimetal approach with magnetic fieldsTesis de doctoradoOscar Vicente Huerta González1-oct-2019
2012Integration of MOSFET/MIM structures using a CMOS-based technology for pH detection applications with high-sensitivityArtículoJoel Molina Reyes; ALFONSO TORRES JACOME; GUILLERMO ESPINOSA FLORES VERDAD; MARIA TERESA SANZ PASCUAL; Erick Guerrero Rodríguez; BERNI MANOLO PEREZ RAMOS19-abr-2021
2012Selection of MOSFET Sizes by Fuzzy Sets Intersection in the Feasible Solutions SpaceArtículoESTEBAN TLELO CUAUTLE; Ivick Guerra Gomez; MIGUEL AURELIO DUARTE VILLASEÑOR10-may-2021
mar-2013Analysis of threshold voltage fluctuations due to short channel and random doping effectsArtículoFRANCISCO JAVIER DE LA HIDALGA WADE11-dic-2021

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