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Buscar por Autor JOEL MOLINA REYES

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Fecha de publicaciónTítuloTipo de publicación/ Tipo de recursoAutor(es)Fecha de depósito
2017A study on FET devices based on Schottky barrier and metal-gate/high-k stacked thin-filmsTesis de maestríaOMAR LOPEZ LOPEZ4-sep-2017
nov-2013Caracterización de dispositivos memristivos basados en estructuras MIM fabricados a baja temperaturaTesis de maestríaRENE VALDERRAMA BERNARDINO-
feb-2013Caracterización de sensibilidad y degradación de películas ultra-delgadas de Al2O3 y su aplicación en sensores de estado sólido sensibles a ionesTesis de maestríaBERNI MANOLO PEREZ RAMOS3-nov-2017
feb-2010Caracterización de Spin-on-Glass como dieléctrico de compuerta en dispositivos MOS y como material vehículo para el depósito de HfO2Tesis de maestríaANA LUZ MUÑOZ ROSAS3-oct-2017
2008Degradation and Breakdown of W–La2O3 Stack after Annealing in N2ArtículoJOEL MOLINA REYES; ALFONSO TORRES JACOME; WILFRIDO CALLEJA ARRIAGA26-abr-2018
2012Diseño de un circuito de calibración aplicado a sensores ISFETTesis de maestríaERICK GUERRERO RODRIGUEZ-
jun-2014Experimental characterization and analysis of magneto-conductance performance of 28 nm MOSFETsTesis de doctoradoERIKA PONDIGO DE LOS ANGELES-
jul-2015Fabricación y caracterización de microelectrodos sobre sustratos flexibles para la estimulación eléctrica de la córneaTesis de maestríaNATIELY HERNANDEZ SEBASTIAN-
2010Magneto-modulation of gate leakage current in 65 nm nMOS transistors: Experimental, modeling, and simulation resultsArtículoEDMUNDO ANTONIO GUTIERREZ DOMINGUEZ; JOEL MOLINA REYES; PEDRO JAVIER GARCIA RAMIREZ11-oct-2018
jun-2018Modelling of the carrier transport properties in nanostructured devices with applications in advanced logic technologies Tesis de doctoradoHector Uribe-Vargas17-sep-2018
feb-2012Nanopartículas de HfO2 embebidas en una matriz de óxido spin-on-glass como capa de atrapamiento de carga para dispositivos de memoriaTesis de maestríaRAFAEL ORTEGA HERNANDEZ30-oct-2017
jun-2012Proceso de fabricación de superficies selectivas de frecuenciaReporteVICTOR HUGO GOMEZ RIVERA; MIGUEL VELAZQUEZ DE LA ROSA BECERRA; JOEL MOLINA REYES14-feb-2018
2008Reliability characteristics of W-La2O3 structures compared with those of HfO2-based gate oxidesArtículoJOEL MOLINA REYES; FRANCISCO JAVIER DE LA HIDALGA WADE; PEDRO ROSALES QUINTERO17-ago-2018
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