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Fecha de publicaciónTítuloTipo de publicación/ Tipo de recursoAutor(es)Fecha de depósito
2011Enhancement of the electrical characteristics of MOS capacitors by reducing the organic content of H2O-diluted Spin-On-Glass based oxidesArtículoJoel Molina Reyes; ALFONSO TORRES JACOME; Jose Efren Peña Alarcon Peña; Manuel Escobar Aguilar11-jul-2019
2012Integration of MOSFET/MIM structures using a CMOS-based technology for pH detection applications with high-sensitivityArtículoJoel Molina Reyes; ALFONSO TORRES JACOME; GUILLERMO ESPINOSA FLORES VERDAD; MARIA TERESA SANZ PASCUAL; Erick Guerrero Rodríguez; BERNI MANOLO PEREZ RAMOS19-abr-2021
2012MOHOS-type memory performance using HfO₂ nanoparticles as charge trapping layer and low temperature annealingArtículoJoel Molina Reyes; Rafael Ortega; Wilfrido Calleja Arriaga; Pedro Rosales Quintero; CARLOS ZUÑIGA ISLAS; ALFONSO TORRES JACOME2-may-2021
2012HfO₂ nanoparticles embedded within a SOG-based oxide matrix as charge trapping layer for SOHOS-type memory applicationsArtículoJoel Molina Reyes; Rafael Ortega; Wilfrido Calleja Arriaga; Pedro Rosales Quintero; CARLOS ZUÑIGA ISLAS; ALFONSO TORRES JACOME2-may-2021
2012High-quality spin-on glass-based oxide as a matrix for embedding HfO₂ nanoparticles for metal-oxide-semiconductor capacitorsArtículoJoel Molina Reyes; ANA LUZ MUÑOZ ROSAS; Wilfrido Calleja Arriaga; Pedro Rosales Quintero; ALFONSO TORRES JACOME2-may-2021
2012Ambipolar a-SiGe:H thin-film transistors fabricated at 200 °CArtículoMiguel Dominguez; Pedro Rosales Quintero; ALFONSO TORRES JACOME; MARIO MORENO MORENO; Joel Molina Reyes; FRANCISCO JAVIER DE LA HIDALGA WADE; CARLOS ZUÑIGA ISLAS; Wilfrido Calleja Arriaga2-may-2021
ene-2013Physical and electrical characteristics of atomic-layer deposition-HfO₂ films deposited on Si substrates having different silanol Si-OH densitiesArtículoJoel Molina Reyes; CARLOS ZUÑIGA ISLAS; Wilfrido Calleja Arriaga; Pedro Rosales Quintero; ALFONSO TORRES JACOME28-mar-2022
19-jul-2013Chemical and Morphological Characteristics of ALD Al₂O₃ Thin-Film Surfaces after Immersion in pH Buffer SolutionsArtículoJoel Molina Reyes; BERNI MANOLO PEREZ RAMOS; CARLOS ZUÑIGA ISLAS; Wilfrido Calleja Arriaga; Pedro Rosales Quintero; ALFONSO TORRES JACOME28-mar-2022

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